第16回アドバンストSEMセミナー 「ナノスケール電子ビームを用いた表面化学計測」
＜第16回アドバンストSEMセミナー＞
日時：3月26日（水）14時〜15時(質疑応答含)
場所：筑波大学総合研究棟B204室 + Teams（ハイブリッド開催）
講師：東洋大学理工学部応用化学科 教授 片野 諭 先生
題目：ナノスケール電子ビームを用いた表面化学計測
電子素子の微細化に代表されるように、次世代の材料開発において物質の構造や物性を微視的に理解し制御することが求められている。このような材料表面の局所観察に適したツールとして走査トンネル顕微鏡（STM）が挙げられる。STMにより原子レベルの空間分解能で表面構造や電子状態を計測できる。さらにSTM探針から放出されるトンネル電子をナノスケールで集束された電子ビームとして利用することで、化学反応や発光を単一分子レベルで誘起することができる。本講演では、STMを用いたナノキャラクタリゼーションや電子注入反応、その他マクロな電子ビームを用いた表面分析について、いくつかの事例を交えて紹介する。
アドバンストSEMセミナーは、日立ハイテクアドバンストSEMテクノロジ特別共同研究事業がイノベイティブ計測技術開発研究センターと共催で開催する計測技術関連のセミナーです。
第16回セミナーは、東洋大学理工学部応用化学科 教授 片野 諭 先生による走査トンネル顕微鏡（STM）を用いた研究成果についての講演です。
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登録のメールアドレスに、Teamsリンクをお送りします。
参加申込締切：３月１８日（火）
