Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義
博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。
今年度は英語にて講義を行い、留学生を含む大学院前期課程の約30名の学生が、光学顕微鏡と電子顕微鏡の相違、走査電子顕微鏡の仕組みと種類などの基礎、その特色を生かした様々な応用研究について学びました。
第10回6月26日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。