2025年度 SEMの物理学分科会研究会
日本顕微鏡学会SEMの物理学分科会（代表世話人:姚遠昭）主催の研究会が開催されました。
当特別事業から石山隆光特任助教が、「深層学習による二次元SEM像からの３次元情報復元」の題目で講演を行いました。
期 日：2025年6月27日（金）13：30～17：00
会 場：産総研臨海副都心センター別館 11F 会議室
参加費：無料
定 員：100 名
テーマ：SEMの物理とデータサイエンスの融合
趣旨： 走査電子顕微鏡(SEM)がもたらす多様な像情報を理解するため，本分科会では 試料内での電子散乱や装置も含めた「SEM の物理」の議論をすすめています。 近年、SEM の測定結果が量的に増加し、内容も複雑化する傾向にあります。 そのため、データサイエンスの技術を活用し、データに隠された物理的特徴を 一層深く解明していこうと考えています。 本年度開催する研究会では、データサイエンス分野の研究者をお招きして、 SEM 研究分野に関するデータサイエンスの活用事例を紹介していただきます。 これを機会に我々は、「SEM の物理」とデータサイエンスの融合に向けた新たな 道筋を模索していきます。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
代表世話人 姚遠昭
プログラム：
- 先端計測データのための計測インフォマティクス
五十嵐 康彦（筑波大学） - 深層学習を用いた材料の組織画像からの特性予測と開発アプリの紹介
古嶋 亮一（産業技術総合研究所） - 深層学習による二次元SEM像からの３次元情報復元
石山 隆光（筑波大学） - 新たなEBSDパターン指数付け方法の評価
鈴木 清一（TSLソリューションズ） - Correlated Electron-Matter Interactions: From Inelastic Scattering
to Beam Focusing via Rotationally Structured Crystals
達 博（物質・材料研究機構）
