NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2024年10月18日日立ハイテクデータサイエンス奨学生グループディスカッション2024年10月15日2024年度応用物理特論「走査電子顕微鏡を使った計測技術の開発、電子光学や電子ビームと物質の相互作用の研究」2024年09月24日第14回アドバンストSEMセミナー「真空沿面帯電・放電進展メカニズムおよび傾斜機能材料による三重点電界緩和」2024年08月28日公募情報(助教1名)2024年08月28日電子の眼で見る身近なミクロ世界