NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2025年05月01日電子顕微鏡チュートリアルセミナー20252025年04月18日開講「Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡)」2025年04月09日特別共同研究事業合同セミナー Kick Off Meeting2025年03月28日応用理工スプリングスクール2025(高校生1日体験教室)2025年02月14日第16回アドバンストSEMセミナー 「ナノスケール電子ビームを用いた表面化学計測」