NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2026年02月25日第18回アドバンストSEMセミナー 「銅合金の真空特性の研究」「電界放出電子源の研究」2025年12月04日2025年度日立ハイテクSEM奨学生・データサイエンス奨学生RA研究報告会2025年12月04日応用理工学類オープンハウス(研究室見学)開催2025年11月13日2025年度応用物理特論「走査電子顕微鏡を使用した計測技術の開発」2025年10月30日日立ハイテクアドバンストSEMテクノロジ特別共同研究事業2025年度成果報告会