NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2025年02月14日第16回アドバンストSEMセミナー 「ナノスケール電子ビームを用いた表面化学計測」2025年02月10日博士論文公開発表会2025年01月10日SEM奨学生・データサイエンス奨学生 RA研究報告会2024年12月02日第15回アドバンストSEMセミナー「3次元アトムプローブ(3DAP)を用いたナノ組織解析と3DAP分析用試料作製技術の高品質化」2024年10月18日日立ハイテクデータサイエンス奨学生グループディスカッション