NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2026年07月30日日立ハイテク見学バスツアー20262026年07月09日第19回アドバンストSEMセミナー 「化合物単結晶の作製技術と装置」2026年07月02日日立ハイテクデータサイエンス奨学生RA アドバイス会2026年07月02日Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義2026年06月16日応用理工学類ファーストイヤーセミナー