NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2026年09月11日金子月海さんが日本加速器学会年会賞を受賞しました2026年09月11日夏休み親子SEM体験2026年08月25日公募情報: 特任教授または特任准教授(ナノ計測数理工学(次世代電子顕微鏡)分野)2026年08月25日公募情報:特任准教授または特任助教(ナノ計測数理工学(次世代電子顕微鏡)分野)2026年07月30日日立ハイテク見学バスツアー2026