NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2025年06月16日日立ハイテクSEM奨学生 グループディスカッション2025年06月16日日立ハイテク見学バスツアー2025年06月15日応用理工学類ファーストイヤーセミナー2025年06月13日日立ハイテクSEM奨学生 Kick off meeting2025年05月01日電子顕微鏡チュートリアルセミナー2025