NEWS | NewsHome→news→Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義Scanning Electron Microscopy(走査電子顕微鏡) 特別講義博士前期課程応用理工学学位プログラム専門科目「Scanning Electron Microscopy(走査型電子顕微鏡)」は走査型電子顕微鏡(SEM)についての基礎から応用まで10回の講義を行っています。 第10回6月27日は、日立ハイテク松永宗一郎先生(筑波大客員准教授)が日立と電子顕微鏡、SEMの種類、性能、特色などについて特別講義を行いました。 最近のニュース2025年08月28日日立ハイテクSEM奨学生RA Kick off meeting2025年08月21日YouTube「ミクロの世界を覗いてみよう!~走査電子顕微鏡~」体験実験2025年08月20日応用理工サマースクール2025 〜高校生向け1日体験教室〜2025年08月07日開講 「計測実験学」 電子ビーム計測2025年07月28日令和7年度筑波大学オープンキャンパス(夏)