日立ハイテク若手研究者と筑波大生との意見交換会

日立ハイテク若手研究者と関口・早田研究室、佐々木・山田研究室の学生との意見交換会を開催しました。 企業研究者と直接研究内容について話す貴重な機会をもつことができ、学生達にも良い刺激となりました。                       日時:10月27日(火)13:00~17:00 場所:筑波大学 総合研究棟B204会議室 13:00                   開会 13:05-13:15        日立ハイテク研究者自己紹介 13:15-13:25  関口・早田研究室、佐々木・山田研究室紹介 13:25-14:00       学生自己紹介と研究内容発表 14:00-14:10    社会人博士課程紹介 14:10-14:50     特別共同研究内容紹介 14:50-15:10        移動・休...
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公募情報(助教または准教授2名)

筑波大学 数理物質系 物理工学域 イノベイティブ計測技術開発研究センターでは助教または准教授を公募いたします。 (1) 次世代電子顕微鏡をめざした電子放出・超高真空・放電における表面科学に関わる研究 (2) 次世代電子顕微鏡をめざした電子光学、電子線計測、評価、制御技術に関わる研究 を行うとともに、理工情報生命学術院 数理物質科学研究群 応用理工学学位プログラム 電子・物理工学サブプログラムの教育を担当する助教または准教授を募集します。 上記研究・教育を数理物質系 物理工学域、日立ハイテクアドバンストSEMテクノロジ特別共同研究事業に所属する教員と協力して実施します。 詳細はこちら        
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2020年度日立ハイテク学修奨学生募集

株式会社日立ハイテクは、電子顕微鏡開発研究に携わり真摯に勉学に励む資質優秀な学生に対して経済的援助を行うことにより、社会に有用な人材を育成することを目的に奨学金の給付を行います。 募集要項・申請書類(募集期間:2020年4月20日~5月15日)          募集は終了しました。 1.日立ハイテク奨学生募集要項2020 2.書式1_奨学金申請書_大学院2020 3.書式2_研究計画書 4.書式3_奨学生推薦状_大学院2020    
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イノベイティブ計測技術開発研究センター(IMC)に参画

2019年10月1日付で、「イノベイティブ計測技術開発研究センター」(センター長:伊藤雅英 筑波大学数理物質系教授、大学執行役員)が設立されました。同センターは、精度・質の高い革新的計測評価技術の開発研究を推進することを目的としています。日立ハイテクアドバンストSEMテクノロジ特別共同研究事業は、イノベイティブ計測技術開発研究センターの核となり、先端計測評価技術の研究開発を推進します。 イノベイティブ計測技術開発研究センター発足 筑波大学国際産学連携本部開発研究センター  
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第7回筑波大学オープンファシリティー研究機器共同利用説明会

<第7回筑波大学オープンファシリティー研究機器共同利用説明会> 開催日時:2019年5月30日(木) 開催場所:筑波大学 健康医科学イノベーション棟 8階 講堂 https://openfacility.sec.tsukuba.ac.jp/public/event20190530/ 【第1部】研究機器共同利用説明会にて走査電子顕微鏡「TM4000」「CD-SEM」の説明をしました。   数理物質系アドバンストSEMの機器紹介  
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第7回筑波大学オープンファシリティー研究機器共同利用説明会

筑波大学、物質・材料研究機構、産業技術総合研究所 連携企画 <第7回筑波大学オープンファシリティー研究機器共同利用説明会> ~ 見えないものを見る、より詳細に見る!つくばエリアの先端計測分析機器を一挙公開!~ 開催日時:2019年5月30日(木) 開催場所:筑波大学 健康医科学イノベーション棟 8階 講堂 https://openfacility.sec.tsukuba.ac.jp/public/event20190530/ 【第1部】筑波大学における研究機器共同利用説明会( 10:00 ~ 12:00 )にて走査電子顕微鏡の紹介をします。 数理物質系アドバンストSEMの機器紹介      教授 関口 隆史  
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オープンファシリティ新規登録 CD-SEM

4月1日より、オープンファシリティ装置(数理物質系アドバンストSEM共同利用機器)として利用可能になりました。 高分解能FEB測長装置(CD-SEM) CS4800 測長SEM(CD-SEM:Critical Dimension-Scanning Electron Microscope)と呼ばれる走査型電子顕微鏡(SEM)の応用装置です。本来は半導体等のウエハ上に形成された微細パターンの寸法計測に用いられる装置で、一般に半導体等の電子デバイスの製造ラインで使用されています。低加速電圧での高分解能観察に適しており、標準で300Vの低加速での試料表面観察が可能です。また連続自動撮像の機能を有するために、大きな視野を高分解能で観察することが出来ます。4、8インチウェハ用の計測用装置ですが、小片試料でもウエハに試料を張り付けることにより観察が可能です。
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オープンファシリティ新規登録 卓上顕微鏡TM4000Plus

4月1日より、オープンファシリティ装置(数理物質系アドバンストSEM共同利用機器)として利用可能になりました。 卓上顕微鏡TM4000Plus TM4000Plusは、初心者でも簡単に操作できる卓上サイズの走査電子顕微鏡(SEM)です。 本装置の特徴は、10分程度で始動でき、10,000倍程度の像観察が可能なこと、特性X線による組成分析が可能なことです。低真空状態での操作が標準であり、これまで電子顕微鏡観察が難しかった有機物や生体試料なども観察できます。 学生実験はもちろん、材料をはじめとした多様な研究に資することが期待されます。
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オープンファシリティ新規登録 FIB

4月1日より、オープンファシリティ装置(数理物質系アドバンストSEM共同利用機器)として利用可能になりました。 集束イオンビーム加工観察装置JIB-4000 Gaイオンビームの照射により、高精度に試料加工を行う装置であり、主にSEMやTEMの試料作製に利用されます。 Gaイオンのスパッタリング効果により、試料にミクロンサイズの矩形の穴あけ加工(粗加工)を行うことが可能です。小さなイオン電流で試料表面の像観察を行うことができるため、異物や欠陥などを抽出してピンポイントな加工を行うことも可能です。また、この装置を利用して、マイクロ、ナノデバイスの加工もできます。
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